膜厚計 LZ-373(3n0859)
測定方式:電磁誘導式/渦電流式兼用、測定対象:磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜、測定範囲:(電磁式)0~2500μm(渦電流式)0~1200μmケツト科学研究所 kett
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