機能(カタログより)
・低出力リップル/ノイズ、内蔵測定機能、基本的なGPIB/RS232 インターフェースのプログラミング機能
・手動テストや自動テスト用に最適化された高性能電源
・ベンチトップ機能とシステム機能を組み合わせて、測定品質向上・テスト時間の削減が可能です。
仕様(カタログより)
物理特性
寸法(幅 × 高さ × 奥行き):212.6 mm×132.6 mm×348.2 mm
質量 正味:9.5 kg、輸送時:12 kg
冷却:ファン冷却
電気仕様
電圧出力(V)(0 °Cから40 °C)
低レンジ:0Vから±15 V
高レンジ:0 Vから±30 V
電流出力(A)(0 °Cから40 °C)
低レンジ:0 Aから7 A
高レンジ0 Aから4 A
プログラミング確度
12ヶ月(25 °C±5 °C、
±(出力の%+オフセット)
電圧:0.05 %+ 10 mV
電流:< 0.2 %+ 10 mA
リードバック確度
12ヶ月(GPIB および RS-232 経
由またはフロント・パネルを
使用、25 °C±5 °C での実際の出
力が基準)、±(出力の%+オ
フセット)
電圧:0.05 %+5 mV
電流:0.15%~から5 mA
リップル/ノイズ
(出力がグランドされていない
場合、またはいずれかの出力
端子がグランドされている場
合、20 Hz ~ 20 MHz)
ノーマル・モード電圧:< 0.35 mVrms および 2 mVpp
ノーマル・モード電流:< 2 mArms
コモン・モード電流:< 1.5 μArms
負荷変動
±(出力の%+オフセット)
(リモート・センシングを接続
した状態で、定格内での負荷
の変化に伴う出力電圧または
出力電流の変化)
電圧:< 0.01 %+ 2 mV
電流:< 0.01 %+ 250 μA
電源変動
電圧:< 0.01 %+ 2 mV
電流:< 0.01 %+ 250 μA
プログラミング分解能
電圧:1 mV
電流:0.5 mA
リードバック分解能
電圧:0.5 mV
電流:0.1 mA
フロント・パネル分解能
電圧:1 mV
電流:1 mA
過渡応答時間
フル負荷から 1/2 負荷またはその逆へ出力電流が変化した
後、出力が 15 mV 以内に回復するまで 50 μs 以内。
コマンド処理時間
電源を GPIB または RS-232 に直結した場合に、デジタル・
データの受信後に出力電圧が変化し始める時間は平均 100 ms
未満。
OVP 精度と OCP 精度 ±(出力の%+オフセット)
過電圧保護(OVP):0.5 %+ 0.5 V
過電流保護(OCP):0.5 %+ 0.5 A
起動時間
(OVP または OCP 状態が発生してから出力が降下し始める時間の平均)
OVP:トリップ電圧が 3 V 以上の場合は< 1.5 ms
トリップ電圧が 3 V 未満の場合は< 10 ms
OCP:< 10 ms
補足特性
出力プログラミングレンジ(プログラム可能な最大値)
低レンジ:0 Vから15.45 V、0 Vから7.21 A
高レンジ:0 Vから±20.6 V、0 Vから1.545 A
OVP:1 Vから32 V
OCP:0 Aから7.5 A
リモート・センシング機能
電圧降下:リード線ごとに最大 1 V
負荷変動:負荷電流の変動を考慮するために、+出力リード線で1 V 変化するごとに仕様に 5 mV 追加してください。
負荷電圧:仕様の出力電圧定格から負荷リード線の電圧降下を差
し引いてください。
温度係数 ±(出力の%+オフセット)
電圧:< 0.01 %+ 3 mV
電流:< 0.02 %+ 3 mA
安定度±(出力の%+オフセット)
電圧:< 0.02 %+ 1 mV
電流:< 0.1 %+ 1 mA
電圧プログラミング速度
アップ:50 ms(フル負荷)、20 ms(無負荷)
ダウン:45 ms(フル負荷)、400 ms(無負荷)
出力端子アイソレーション(最大、シャーシ・グランドから)
・ ±60 Vdc、(+)出力端子と(+)センス端子の間、
(-)出力端子と(-)センス端子の間を絶縁なし
の短絡導線で接続。
・±240 Vdc、(+)出力端子と(+)センス端子の間、
(-)出力端子と(-)センス端子の間を絶縁され
た短絡導線で接続。
AC 入力定格
(リア・パネルの切り替えスイッチで
選択可能)
・115 Vac ±10 %、47 Hzから63 Hz(標準)
・230 Vac ±10 %、47 Hzから63 Hz(オプション 0E3)
・100 Vac ±10 %、47 Hzから63 Hz(オプション 0E9)
最大入力パワー:500 VA(フル負荷)
出力電圧オーバシュート:< 1 V
プログラミング言語:SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments)
ステート記録メモリ:ユーザ設定可能な 3 つのステート記憶位置
推奨校正間隔:1 年間
※詳しくは、お問合せください。
アジレント Agilent
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